Beitrag, Deutsch, 5 Seiten, Quality Engineering
Autor: Prof. Dr. Hartmut Ernst
Herausgeber / Co-Autor: H. Ernst, R. Obergrußberger, H. Moritz
Erscheinungsdatum: 2005
Quelle: Quality Engineering 04/2005
Seitenangabe: 20-24
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Die berührungslose optische Vermessung von Objekten mit Messunischerheiten im Bereich von Mikrometern ist mit hochauflösenden Industriekameras in Verbindung mit Subpixelinterpolation seit Jahren Stand der Technik. Allerdings ist das auswertbare Blickfeld je nach Ortsauflösung der Kameras und gewünschter Genauigkeit auf einige Quadratzentimeter beschränkt.
Eine Möglichkeit zur optischen Vermessung beliebig großer Objekte ist die Verwendung mehrerer parallel arbeitender Kameras, deren Position zueinander dann genauer bekannt sein muss als die gewünschte Messunsicherheit.
Eine andere Option ist die Bewegung einer Kamera mit der entsprechenden Präzision über das gesamte zu vermessende Objekt. Eine Möglichkeit dazu sind Koordinaten-Messmaschinen, die allerdings für viele Anwendungen zu groß, zu schwer und auch zu teuer sind.
Hier wird eine Methode beschrieben, bei der die Lage der Kamera in Bezug auf ein großes Referenzobjekt ermittelt wird.
Dazu wird eine spezielle Optik verwendet, die das Referenzobjekt und den aktuellen Ausschnitt des zu vermessenden Objekts simultan auf dem Kamerachip abbildet. In der beschriebenen Anwendung können bis zu zwei Quadratmeter große Glasscheiben mit aufgedruckten Strukturen auf ca. 5 µm genau vermessen und justiert werden.
Fachthemen
Publikationen: 12
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